Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀

圖片關(guān)鍵詞

Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品介紹：

Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設計目標，F10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。只需簡單操作。用戶就能進行 FWHM 并進行顏色分析。可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀的分析能力。測量結(jié)果能被快速地導出和打印。

Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品特點優(yōu)勢：

同步測量薄膜的反射率/穿透率，1s內(nèi)獲得結(jié)果；
簡單快速、易于使用的分析優(yōu)點；
設備具有完整標準配置，確保設備高度可靠；
測量結(jié)果能被快速地導出和打印。

Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品測量原理：

當入射光穿透不同物質(zhì)的界面時將會有部分的光被反射，由于光的波動性導致從多個界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

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Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品應用與膜層范例：

半導體膜層	顯示技術(shù)	消費電子	派瑞林
光刻膠	OLED	防水涂層	電子產(chǎn)品/電路板
介電層	ITO和TCOs	射頻識別	磁性材料
砷化鎵	空氣盒厚	太陽能電池	醫(yī)療器械
微機電系統(tǒng)	PVD和CVD	鋁制外殼陽極膜	硅橡膠

Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀產(chǎn)品參數(shù)：

波長范圍：	190nm-1700nm	光源：	鎢鹵素燈、氘燈
厚度測量范圍：	1nm-150μm	測量精度：	0.01nm
光斑大小：	6mm	穩(wěn)定性：	0.05nm
更多參數(shù)可聯(lián)系我們獲取